通常我們指的是氧化鋯探頭的老化，主要是在增加內(nèi)阻和背景電位這兩項(xiàng)上：
（1）增加內(nèi)阻 在實(shí)際應(yīng)用中，探頭老化引起的內(nèi)阻增大。內(nèi)阻是指信號(hào)線兩端之間的輸入電阻。它是引線電阻、電極與氧化鋯之間的界面電阻和氧化鋯的體積電阻的總和。因此，電極揮發(fā)、電極脫落以及氧化鋯電解質(zhì)（從穩(wěn)定氧化鋯到不穩(wěn)定氧化鋯）的不穩(wěn)定性將導(dǎo)致內(nèi)阻增加。氧化鋯探頭的老化可以通過(guò)測(cè)量探測(cè)器的內(nèi)部電阻來(lái)判斷。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，當(dāng)內(nèi)阻增加到其使用極*，就會(huì)出現(xiàn)大信號(hào)跳躍現(xiàn)象，有的反應(yīng)為慢響應(yīng)現(xiàn)象。對(duì)于這些氧化鋯探頭，背景電位未必大。 （2）背景電位增加 背景電勢(shì)是電池的附加電勢(shì)。引起背景電位升高的因素有兩個(gè)：一是*因素，寄生在電池上，如SO2、SO3腐蝕、電池不對(duì)稱(chēng)等；二是暫時(shí)因素，如電極灰分、空氣對(duì)流差等。再改進(jìn)，可以降低背景電位。 背景電位的增加往往反映了氧化鋯探頭的老化程度。當(dāng)E0值超過(guò)分析儀的大調(diào)節(jié)值時(shí)，鋯探頭已被損壞。 例如： 氧化鋯，E0為-5MV，制造時(shí)，其允許范圍為0～30MV。使用六個(gè)月后，它變成-13mV；使用18個(gè)月后，它變成：-29mV；這表明探測(cè)器老化，需要更換。應(yīng)該注意的是，一些探測(cè)器的老化表現(xiàn)在背景電位增加，而有些氧化鋯探頭雖然老化，但沒(méi)有這種現(xiàn)象，所以我們需要認(rèn)真分析。當(dāng)背景電勢(shì)由于臨時(shí)因素而增加時(shí)，隨著時(shí)間的流逝，可能出現(xiàn)背景電勢(shì)先增加后減小。 隨著背景電勢(shì)的增加，探針老化的數(shù)量小于內(nèi)阻的數(shù)量增加。簡(jiǎn)單的背景增大，一般不會(huì)有大的信號(hào)脈動(dòng)現(xiàn)象。 |
